粗糙度輪廓儀一體機(jī)主要產(chǎn)品

粗糙度輪廓儀一體機(jī)是一種集成了表面粗糙度測(cè)量和輪廓形狀測(cè)量功能的精密儀器，能夠同時(shí)評(píng)估工件的微觀粗糙度（如Ra、Rz等參數(shù)）和宏觀輪廓（如直線(xiàn)度、圓弧度、坡度等）。以下是市場(chǎng)上主流品牌和典型產(chǎn)品系列及其特點(diǎn)：

1. 國(guó)際產(chǎn)品

（1）Mitutoyo（三豐）

Surftest SJ-410/SJ-2100系列

功能：粗糙度+輪廓測(cè)量（可選配）。

特點(diǎn)：高精度傳感器、便攜式設(shè)計(jì)，支持多種國(guó)際粗糙度標(biāo)準(zhǔn)。

應(yīng)用：汽車(chē)、精密機(jī)械、模具等。

2）Taylor Hobson（泰勒霍普森）

Talysurf PGI系列

功能：納米級(jí)粗糙度+宏觀輪廓一體化測(cè)量。

特點(diǎn)：采用光學(xué)干涉或接觸式測(cè)頭，適合超精密表面（如光學(xué)鏡片、磁盤(pán)）。

3）Mahr（馬爾）

MarSurf LD 260

功能：粗糙度與輪廓同步測(cè)量。

特點(diǎn)：模塊化設(shè)計(jì)，可擴(kuò)展為3D測(cè)量，適合復(fù)雜曲面（如渦輪葉片）。

4）Bruker（布魯克）

Dektak XT系列

功能：臺(tái)階儀+粗糙度+輪廓測(cè)量。

特點(diǎn)：非接觸式白光干涉技術(shù)，適用于半導(dǎo)體、薄膜材料

5）Zeiss（蔡司）

Surfcom Flex系列

功能：高精度粗糙度+輪廓分析。

特點(diǎn)：自動(dòng)化程度高，可集成到生產(chǎn)線(xiàn)，適合大批量檢測(cè)。

2. 國(guó)內(nèi)主流品牌及產(chǎn)品

1）慧測(cè)（舒耀）儀器（Syaoo）

CX系列

功能：接觸式粗糙度+輪廓測(cè)量。

特點(diǎn)：國(guó)產(chǎn)性?xún)r(jià)比，支持動(dòng)態(tài)測(cè)量，適用于機(jī)械加工、軸承行業(yè)。

2）哈爾濱量具（HLD）

2205系列

功能：一體式粗糙度輪廓儀。

特點(diǎn)：便攜式設(shè)計(jì)，適合車(chē)間現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)。

3）北京時(shí)代之峰（Time Group）

TR200/TR300系列

功能：手持式粗糙度儀（可擴(kuò)展輪廓模塊）。

特點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，適用于金屬加工、焊接檢測(cè)。

3. 核心功能與技術(shù)特點(diǎn)

雙模式測(cè)量：同一設(shè)備切換粗糙度測(cè)針和輪廓測(cè)針，或通過(guò)軟件算法分離數(shù)據(jù)。

高精度傳感器：接觸式（金剛石測(cè)針）或非接觸式（激光/白光干涉）。

多參數(shù)分析：

粗糙度：Ra、Rz、Rq、Rt等。

輪廓：直線(xiàn)度、圓弧半徑、坡度、波紋度等。

智能化軟件：自動(dòng)生成報(bào)告、3D可視化、比對(duì)CAD模型（如Taylor Hobson的Ultra軟件）。

4. 典型應(yīng)用場(chǎng)景

精密制造：齒輪、軸承、密封面的粗糙度與輪廓同步檢測(cè)。

半導(dǎo)體：晶圓表面平整度與刻蝕臺(tái)階高度測(cè)量。

醫(yī)療器械：人工關(guān)節(jié)表面拋光質(zhì)量與形狀公差驗(yàn)證。

科研領(lǐng)域：材料表面摩擦學(xué)性能研究（如粗糙度對(duì)潤(rùn)滑的影響）。

5. 選型建議

精度需求：超精密測(cè)量（如光學(xué)元件）建議選擇泰勒霍普森或布魯克；常規(guī)工業(yè)需求可選三豐或慧測(cè)儀器。

測(cè)量環(huán)境：車(chē)間現(xiàn)場(chǎng)優(yōu)先考慮防震、防塵設(shè)計(jì)（如Mahr）；實(shí)驗(yàn)室環(huán)境可選擇高分辨率型號(hào)。

預(yù)算：進(jìn)口設(shè)備價(jià)格較高（數(shù)十萬(wàn)至***），國(guó)產(chǎn)設(shè)備性?xún)r(jià)比更優(yōu)（萬(wàn)級(jí)起）。

總結(jié)

粗糙度輪廓儀一體機(jī)是制造領(lǐng)域的關(guān)鍵檢測(cè)工具，用戶(hù)需根據(jù)具體需求（精度、速度、環(huán)境）選擇合適品牌和型號(hào)。隨著技術(shù)發(fā)展，非接觸式測(cè)量和AI數(shù)據(jù)分析正成為新趨勢(shì)（如蔡司的AI缺陷識(shí)別功能）。